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【“源”察秋毫系列】纤维器件及其阵列电学测试方案详解
使用电压表或SMU源表等测试设备（如数字多用表的电压测量档等），将电压表的探头与纤维电学器件的两个输出电极相连接，确保连接牢固且接触良好，以减少接触电阻对测量结果的影响。当纤维电学器件处于工作状态（如受到特定刺激，像压电纤维器件受到外力作用、光电器件受到光照等）或在特定的电路环境下运行时，电压表会实时显示出器件两端的电位差，即输出电压值。
2024-12-02
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半导体参数分析仪的FFT分析
傅立叶分析可以将时域信号与频域信号进行转换?？焖俑盗⒁侗浠唬‵FT）计算在获取时间相关的直流信号（如电流、电压）并将其转换为频率和基于交流的参数，如电流谱密度、1/f噪声、热噪声和交流阻抗）时非常有用。源测量单元 （SMU）和脉冲测量单元（PMU）是4200A-SCS参数分析仪的?？?，用于在时域测量和加载输出电流或电压。仪器对这些基于时间的测量可以通过FFT计算转换为频域的参数。
2024-08-07
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新型SMU克服低电流容性设置的棘手测试挑战
在测试设置中使用长电缆或容性卡盘时，测试仪器输出的电容会提高，导致测量不准确或不稳定，尤其是非常灵敏的弱电测量，因为它同时还要提供或扫描DC电压。为解决这些挑战，泰克科技旗下公司吉时利为Keithley 4200A-SCS推出了两种新的源测量单元(SMU)?？?，即使在高测试连接电容的应用中，仍能进行稳定的弱电测量。
2021-12-24
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如何实现多通道SMU源测量单元？这里有一款实用解决方案~
实现一款高集成度、精密、较大功率的多通道源测量单元（SMU）需要突破哪些设计难点？要实现全象限的Force Voltage / Measure & Clamp Current以及Force Current / Measure & Clamp Voltage的功能，如果要使用离散器件搭建整个控制环路，无疑是非常复杂的。
2021-04-01
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【当代材料电学测试】系列之四：宽禁带材料测试
材料性质的研究是当代材料科学的重要一环，所谓材料的性质是指对材料功能特性和效用的定量度量和描述，即材料对电、磁、光、热、机械载荷的反应。源表SMU 在当代材料科学研究中，起到举足轻重的作用，选择适合某类材料电性能测试的SMU，如何降低测试误差，测试中应当注意什么，这些问题都需要重点关注。
2021-03-26
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【当代材料电学测试课堂】系列之一： 纳米测试（上）
材料性质的研究是当代材料科学的重要一环，所谓材料的性质是指对材料功能特性和效用的定量度量和描述，即材料对电、磁、光、热、机械载荷的反应。源表SMU 在当代材料科学研究中，起到举足轻重的作用，选择适合某类材料电性能测试的SMU，如何降低测试误差，测试中应当注意什么，这些问题都需要重点关注。
2021-03-15
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RL电路的瞬态响应
在《模拟对话》2017年12月文章中介绍SMU ADALM1000 之后，我们希望将该系列续写下去，介绍一些小的基本测量。本实验活动的目标是通过脉冲波形研究串联RL电路的瞬态响应并了解时间常数的概念。
2021-01-13
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什么是相位，我们为何要关心相位？
在《模拟对话》2017年12月文章中介绍SMU ADALM1000 之后，我们希望进行一些小的基本测量，这是ADALM1000系列的第六部分。本实验活动的目标是了解何谓信号之间的相位关系，以及理论在何种程度上与实践吻合。
2021-01-13
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戴维宁等效电路和最大功率传输
在《模拟对话》2017年12月文章中介绍SMUADALM1000之后，我们希望进行一些小的基本测量，这是ADALM1000系列的第三部分。本实验活动的目的是通过获得给定电路的戴维宁等效电压(VTH)和戴维宁等效电阻(RTH)来验证戴维宁定理，然后验证最大功率传输定理。
2021-01-12
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RC电路的瞬态响应
在《模拟对话》2017年12月文章中介绍SMUADALM1000之后，我 们希望进行一些小的基本测量，这是ADALM1000系列的第四部分。本实验活动的目标是通过脉冲波形研究串联RC电路的瞬态响应并 了解时间常数的概念。
2021-01-12
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支持千倍以上负载电容的灵敏测试
使用长电缆或电容夹头的测试设置会增加测试仪器输出的电容，导致测量结果不准确或不稳定。当输出或扫描直流电压并测量异常灵敏的低电流时，能观察到这种效应。为了应对这些挑战，泰克为吉时利4200A-SCS参数分析仪引入了两个新的源测量单元（SMU）模块，即使在测试连接电容较高的应用中，该模块也可以进行稳定的低电流测量。
2020-02-14
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【4200 SMU应用文章】之实例篇：高测试连接电容下稳定测试弱电流
源测量单元(SMU)是一种可以提供电流或电压，并测量电流和电压的仪器。SMU用来对各种器件和材料进行I-V表征，是为测量非常灵敏的弱电流，同时提供或扫描DC电压而设计的。但是，在拥有长电缆或其他高电容测试连接的测试系统中，某些SMU可能不能在输出上容忍这样的电容，从而产生有噪声的读数和/或振荡。
2019-12-10
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