时间：2010年04月10日 - 2010年07月10日
内容介绍：
根据IEC61000-4-2、GB/T 17626.2.1998 等相关ESD 国际、国家标准，并针对不同电路环境和IC的耐压要求，不同的电子系统需要不同的ESD?；て骷Ｉ虾９庥铑Ｐ疚⒌缱佑邢薰咎峁┒嘀窒盗械陌氲继骞贡；て骷?，会议将介绍半导体过压?；さ幕≈叮肫渌骷亩员?，并讲解各种器件的选型要领和设计指南。